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泽泉2016植物表型技术服务周通知(长沙/武汉/南京/北京)

更新日期:2016-05-26   |  点击率:157

泽泉科技2016植物表型技术服务周通知(长沙/武汉/南京/北京)

        为更好地服务全国的科研用户,为全国高校、研究所的科研工作提供技术保障,为植物表型科研领域研究人员更深入地了解的产品及测量技术,上海泽泉科技股份有限公司将于2016年5月31日至6月7日分别在长沙、武汉、南京和北京四地举办2016泽泉科技植物表型技术服务周会议内容包括AgriPheno™高通量植物表型平台介绍、叶绿素荧光技术、表型分析与LemnaTec表型系统的性状分析的应用、自动取样与种子质量控制解决方案、整幅图片的影响力—植物根系分析等。

 

        现向全国高校、研究所科研人员发出诚挚邀请,期待您的光临!上海泽泉科技股份有限公司将携手LEMNATEC、 ALCI、 Force-A、 Phenotyping Screening走进实验室,竭诚为您服务,期待与您的交流与合作。

 

        会议日程:

泽泉科技2016植物表型技术服务周(长沙/武汉/南京/北京)日程

        参会须知:

1、参会回执:请参会人员于5月27日前将参会回执(附件1)通过电子邮件发送至:alice.shi@zealquest.com,或传真发至。

2、会议费用:参会免费。交通、食宿、旅游费用自理。

 

        会务组:

1、 参会回执接收:alice.shi@zealquest.com;参会回执接收

2、长沙会场会务:胡静,:  

3、 武汉南京会场会务:陈登科,:

4、北京会场会务:王海锋,:

 

        附件:

附件1:2016泽泉科技植物表型技术服务周 参会回执

附件2:2016泽泉科技植物表型技术服务周日程表

附件3:AgriPheno平台服务项目春季优惠通知

 

上海泽泉科技股份有限公司

2016年5月23日