泽泉2016植物表型技术服务周通知（长沙/武汉/南京/北京）

        为更好地服务全国的科研用户，为全国高校、研究所的科研工作提供技术保障，为植物表型科研领域研究人员更深入地了解的产品及测量技术，上海泽泉科技股份有限公司将于2016年5月31日至6月7日分别在长沙、武汉、南京和北京四地举办2016泽泉科技植物表型技术服务周。会议内容包括AgriPheno™高通量植物表型平台介绍、叶绿素荧光技术、表型分析与LemnaTec表型系统的性状分析的应用、自动取样与种子质量控制解决方案、整幅图片的影响力—植物根系分析等。

        现向全国高校、研究所科研人员发出诚挚邀请，期待您的光临！上海泽泉科技股份有限公司将携手LEMNATEC、 ALCI、 Force-A、 Phenotyping Screening走进实验室，竭诚为您服务，期待与您的交流与合作。

        会议日程：

        参会须知：

1、参会回执：请参会人员于5月27日前将参会回执（附件1）通过电子邮件发送至：alice.shi@zealquest.com，或传真发至。

2、会议费用：参会免费。交通、食宿、旅游费用自理。

        会务组：

1、 参会回执接收：alice.shi@zealquest.com；参会回执接收

2、长沙会场会务：胡静，：  

3、 武汉南京会场会务：陈登科，：

4、北京会场会务：王海锋，：

        附件：

附件1：2016泽泉科技植物表型技术服务周 参会回执

附件2：2016泽泉科技植物表型技术服务周日程表

附件3：AgriPheno平台服务项目春季优惠通知

上海泽泉科技股份有限公司

2016年5月23日